DT306-IIA光强分布测定仪

功能：

单缝、单丝、双缝、多缝等衍射、干涉图形的一维光强分布测定；

小孔、小屏、矩孔、双孔、光栅和正交光栅等的衍射、干涉现象演示实验；

偏振光实验光强变化的测定；

验证马吕斯定律.

技术指标：

1. 导轨长度:1000mm .

2. 半导体激光器:配置精密二维调整架，波长635nm，功率3mv.

3. 分划板:小孔狭缝板和光栅.

4、可调狭缝宽度:0—1 mm（连续可调）.

5、扩束镜倍率:13X  .

6、一维光强分布测量距离 :＞80 mm.*小读数：0.01 mm.

7、偏振光实验测量范围 :360°,刻线*小读数：2°.

8、数字式检流计:光电流测量范围：0~2×10-4A,*小读数：1×10-10A.

9、供电电源:交流220V±11V，频率50HZ（交流稳压）